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XRD冷热台在测试中有什么优势

更新时间:2021-12-29      点击次数:1497

1、研制背景

X-射线衍射分析法目前已广泛应用于物相的定性或定量分析、晶体结构分析、材料结构分析、宏观应力或微观应力测定等方面。在不同温度下测试的样品物相可能会发生变化,原位X-射线衍射高低温样品台可以为样品提供良好的变温测试条件,从而满足样品在不同温度下的测试需求。


2、产品介绍

文天精策仪器科技(苏州)有限公司开发的原位X-射线衍射高低温样品台(下文简称XRD冷热台),产品系统主体包含XRD冷热台、位移样品架、温度控制系统、供气或真空系统和循环冷却系统。

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XRD冷热台现有两款产品,可以实现的温度控制范围分别为:-190°C~600°C,RT~1200°C,在空气、惰性气体或真空的环境条件,与常见的X-射线衍射仪配套使用。XRD冷热台适合各种类型的样品在高低温下进行X-射线结构研究,多种样品架可配合反射和透射模式,支持在现有各种X-射线衍射仪(布鲁克、赛默飞、理学等)上改造适配。


3、系统参数

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4、系统特色

(1)      衍射角0-164°

(2)      真空腔室(10-3 mbar)

(3)      负温下吹气除霜管路

(4)      可增加试样温度监测

(5)      可适配衍射仪定制样品架

(6)      多种样品架实现反射和透射

(7)      温控精度高,可编程阶梯控温

(8)      电热、液氮可实现快速升降温

(9)      温控范围宽(-190~600℃ / RT~1200℃)

(10)  中低温产品采用银质冷热传导,均温性好

(11)  高温产品采用陶瓷加热片,温度传感器靠近样品,精准测量样品温度


5、相关案例(变温X-射线衍射测试)

(1)X-射线衍射仪:赛默飞(Thermo Scientific)

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粉末样品填充


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粉末样品变温测试


(2)X-射线衍射仪:理学(Rigaku)

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钛合金原位升降温测试







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