文天精策仪器科技（苏州）有限公司是专业的冷热台生产厂家， -190~600℃，高温1200℃，温控精度±0.1℃。光学冷热台是能够与光学显微镜、扫描电子显微镜、环境扫描电子显微镜、低温冻干显微镜、共聚焦拉曼显微镜、荧光显微镜等多种显微镜设备结合，通过编程精密控制样品台温度，快速加热或冷却样品，可以观察、记录该过程中样品发生的结构和形貌变化，探究和认识样品的理化性质。

半导体冷热台又称帕尔贴冷热台，利用半导体的热-电效应制取冷量，配合低温循环液使用。支持与各类显微镜、光谱仪等光学仪器设备联用，进行变温下的光学观察及测试。 可在 -30~150℃的温度范围内进行温控，实现样品在开放式 / 气密 / 真空环境下的变温光学观察及测试。

光学冷热台支持与各类显微镜、光谱仪等光学仪器设备联用，进行变温下的光学观察及测试。 可在 -190~600℃ / RT~1200℃ 的温度范围内进行温控，实现样品在气密 / 真空环境下的变温光学观察及测试。

XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件，可实现样品变温测试的温度范围：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空气 / 惰性气体 / 真空的环境条件下进行测试。 适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，支持在现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）上定制样品架进行适配。

变温光谱仪冷热台可实现多种环境(气氛、真空、湿度等)，与显微镜、拉曼、光谱仪、DIC等联用，进行材料、器件等的成分、相变、形变、电学、光学性能等测试。

变温X衍射结构紧凑，适用于多种材料的变温XRD测试，最大温度范围 -190 ℃ 到 600 ℃ （可选性）。