SEM原位冷热台是一款专为扫描电子显微镜设计的高性能变温测试附件，无需对电镜内部结构进行任何改造，即可实现样品的原位变温实验。该装置通过定制外接法兰与电镜腔体连接，配合专项温控软件，可对样品进行精确加热与制冷，适用于多种材料在变温过程中的微观结构研究。其法兰接口可根据现有主流扫描电镜型号（如蔡司、国仪量子、惠然等）进行定制，确保与不同品牌设备的高度适配。

光学热台是研究材料在变温环境下光学性能的重要设备，在材料科学、半导体物理、光电器件、纳米技术、生物光子学及矿物学等领域具有普遍应用。它能够在精确控制样品温度的同时，实时表征其光学特性，如显微图像、荧光光谱、拉曼光谱、X射线衍射及发光效率等。

OLED变温测试冷热台气密腔室（氮气保护），上盖适配光电二极管传感器，控温速度：0~10℃/min（程序段控温时），2个探针、2个BNC接口。

XRD原位热台是一款专为X射线衍射仪设计的高精度变温附件，适用于粉末或片状样品在变温条件下的结构分析，可依据用户现有设备型号（如布鲁克、赛默飞、理学等主流X射线衍射仪）定制适配样品架。其作为一款专为X射线衍射分析开发的原位装置，能够精确调控温度、力学等多物理场耦合条件，实时监测材料在复杂环境下的结构演变，具备优异的适配性与扩展性，满足多样化科研需求。